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非接觸式金屬膜厚測量儀常見故障及處理方法

更新時間:2023-05-26 點(diǎn)擊次數(shù):587
   非接觸式金屬膜厚測量儀通常用于測量金屬薄膜的厚度,例如在半導(dǎo)體、涂料、電子元件制造等領(lǐng)域中。它可以通過使用光學(xué)或放射性技術(shù)來測量薄膜的厚度,并且不需要與被測物體接觸,從而避免了可能對樣品造成的損傷或污染。

非接觸式金屬膜厚測量儀

 

  原理:
  非接觸式金屬膜厚測量儀主要通過測量被測物表面反射的光強(qiáng)來確定金屬膜的厚度。該測量儀使用一個激光或LED發(fā)射器照射被測物表面,然后測量反射光的強(qiáng)度并將其轉(zhuǎn)換為金屬膜的厚度數(shù)據(jù)。該測量方法具有高精度、高速度和非接觸等優(yōu)點(diǎn),適用于金屬薄膜的厚度測量。
  非接觸式金屬膜厚測量儀常見故障及處理方法:
  故障:讀數(shù)不穩(wěn)定或不準(zhǔn)確
  處理方法:檢查是否存在干擾源,例如強(qiáng)磁場、震動等。還可以校準(zhǔn)儀器或更換探頭。
  故障:顯示屏無法顯示或出現(xiàn)亂碼
  處理方法:檢查電源和信號線連接是否正常,嘗試重啟設(shè)備。如果問題仍然存在,則可能需要更換顯示屏或主板。
  故障:探頭損壞或失靈
  處理方法:更換探頭,并進(jìn)行校準(zhǔn)操作以確保測量的準(zhǔn)確性。
  故障:儀器運(yùn)行異?;驘o法開機(jī)
  處理方法:檢查電源連接是否正常。如果電源正常但仍無法開機(jī),則可能需要維修或更換主板或其他內(nèi)部組件。
  故障:測量范圍超出限制或無法調(diào)整
  處理方法:檢查儀器的規(guī)格參數(shù),了解其測量范圍。如果超出了其測量范圍,則需要使用適合范圍的儀器。如果無法調(diào)整,則可能需要校準(zhǔn)或更換部件。

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